Solid insulation genom mönsterkortsbasmaterial

Övriga diskussioner relaterade till komponenter. Exempelvis radiorör, A/D, kontaktdon eller sensorer.
Användarvisningsbild
psynoise
EF Sponsor
Inlägg: 7154
Blev medlem: 26 juni 2003, 19:23:36
Ort: Landvetter

Solid insulation genom mönsterkortsbasmaterial

Inlägg av psynoise »

Det är inte alla elsäkerhetsstandarder som specificerar vad som gäller för "solid insulation" genom ett mönsterkortsbasmaterial. När det gäller reinforced eller basic insulation brukar jag betrakta mönsterkortet som luft men för functional insulation vill jag gärna ha mindre avstånd.

För functional insulation kan det finnas hänvisning till impulse voltage test eller kortslutningstest. Men för att vara på säkra sidan att klara av impulse voltage test och designa ett robust mönsterkort vill jag ha bra input på vilken "electric strength" [V/mm] man bör hålla sig inom. Även IPC-2221A ger vägledning under "electrical clearance" men gör ingen skillnad på X/Y och Z-axeln samt specificerar inte transienter utan endast AC peak.

FR4 IS400 finns märkt till 48 kV/mm, FR4 NP155F till 30 kV/mm och standard FR4 vill jag minnas att man sade förr 20 kV/mm. Dock har jag sätt det rapporteras om att tåligheten minskar drastiskt efter en tids vid användning.

SIERRA Proto Express "HIGH VOLTAGE PRINTED CIRCUIT DESIGN & MANUFACTURING NOTEBOOK" (Figure 11) nämner 5.9 kV/mm (150 Volts/mil) efter 6 månader.
https://www.magazines007.com/pdf/High-V ... Design.pdf

Vad tycker ni andra, finns det någon bra praxis på vilken tjocklek basmaterialet till ett mönsterkort bör ha för att klara en viss spänning?
swirve
Inlägg: 390
Blev medlem: 13 mars 2007, 21:58:25
Ort: Norrköping

Re: Solid insulation genom mönsterkortsbasmaterial

Inlägg av swirve »

Finns det en relevant elsäkerhetsstandard så följer jag den, på senaste tiden är det mest 61010 som gällt. Är det för funktionell isolation brukar jag följa det ipc 2221 säger. Har aldrig varit problem vid hipot test, har dock inte testat på äldre kort som varit i drift en längre tid utan det är typiskt vid ATP efter produktion som hipot test sker.
Skriv svar